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    XSP-109C系列 比較顯微鏡

    一、儀器用途

    XSP-109C比較顯微鏡能同理觀察到左右兩個物方視場的像,從而對兩個物呂通過對接,重疊進行放大比較,以分辨二者的微小燕子差異,如對槍彈痕跡、工具痕跡、指紋、印章、文字、錢幣、印刷品等。是公安技術部門作刑偵物證、文件鑒定和教學的理想儀器,也適用于需要對物體進行比較鑒別的其它部門。

    二、產品特點

    ◆右系統倍率微調系統:右系統可實現±3%放大倍數補償,以獲得視場下圖像放大倍率的一致

    ◆切換手輪逆時針旋轉,先后出現比較顯微鏡的四種觀察狀態:左系統視場,視場切割,右系統視場和視場重疊

    三、技術參數

    觀察頭

    鉸鏈式三目頭,30°傾斜,瞳距 48-75mm

    目鏡

    WF10×/ 18

    WF16×/ 11

    橋體

    左右系統視場單獨觀察,圖像對比,重疊;右側±3%放大倍數補償;橋體總放大倍率為 1×

    物鏡

    消色差物鏡 4×、10×、40×、100×

    平場消色差物鏡 4×、10×、20×、40×、60×、100×

    轉換器

    內向式四孔轉換器

    載物臺

    雙層活動平臺面積 132×142mm,移動范圍75×40mm

    調焦機構

    同軸粗微調焦機構

    聚光鏡

    NA 1.25 阿貝聚光鏡帶可變光欄

    照明系統

    S-LED 照明系統,亮度連續可調

    6V/ 20W 鹵素燈照明系統,亮度可調

    濾色片

    藍色濾色片

    綠色濾色片


    攝像附件

    1×(C 接口)

    0.5×(C 接口)

    成像系統

    300/500萬像素高清顯微攝像儀

    高清成像系統軟件

    高精度顯微測量專用標尺,精度0.01mm/格

    ●為標準配置,○為選購配置

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